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  光切法显微镜 9J(JBQ)
显微镜 >> 显微镜 >> 测量显微镜.光切法显微镜

产品名称:光切法显微镜
产品型号:9J(JBQ)

询购热线: 021-65730171

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本仪器是以光切法测量另件加工表面的微观不平度。其能判断别国家标准GB 1031-68所规定▽3-9级表面光洁度。

对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

 

测量范围不平度平均高度值

0.81.6微米

>1.66.3微米

>6.320微米

>2080微米

表面光洁度级别

9

87

65

43

所需物镜

60N.A.0.55

30N.A.0.40

14N.A.0.20

7N.A.0.12

总放大倍数

510×

260×

120×

60×

物镜组件工作距离

0.04mm

0.2mm

2.5mm

9.5mm

视场

0.3mm

0.6mm

1.3mm

2.5mm

摄影装置放大倍数

6×

测量不平度范围

0.880)微米

不平度宽度

用测微目镜

0.7微米~2.5mm

 

用座标工作台

0.0113mm

仪器重量

23kg

外形尺寸

180×290×470mm

 

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